Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Владимир Бублик
Техническая литература.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.