Эрнест Витальевич Суворов
Список книг автора Эрнест Витальевич СуворовДифракционный структурный анализ 3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Дифракционный структурный анализ 3-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО
С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги – известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах – делает попытку восполнить этот пробел.
Дифракционный структурный анализ 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для СПО
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
Дифракционный структурный анализ 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме, приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для академического бакалавриата
С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги – известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах – делает попытку восполнить этот пробел.