Лабораторный практикум по курсу «Элементы и устройства магнитоэлектроники» имеет целью обеспечить формирование у студентов навыков радиофизических методов определения магнитных параметров ферритовых материалов, обработки экспериментальных результатов с использованием компьютера, численного моделирования зависимости динамических параметров ферритов от напряженности и частоты магнитного поля.
Рассмотрены основные физико-химические свойства материалов, используемых в радиоэлектронной аппаратуре. Для основных четырех групп материалов – полупроводников, металлов, диэлектриков и магнетиков приведены свойства, определяющие их функциональность, и рассмотрены базовые технологии получения.
Практикум по учебным дисциплинам специализации «Материалы и технология магнитоэлектроники» («Материаловедение магнитоэлектроники», «Технология производства изделий магнитоэлектроники», «Элементы и устройства магнитоэлектроники») включает комплект расчетно-практических задач и вопросов, способствующих формированию у студентов навыков практической оценки магнитных и технологических параметров материалов. Практикум отвечает требованиям квалифицированной характеристики в соответствии с учебным планом специальности 210104 (2001) «Микроэлектроника и твердотельная электроника».
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.04.04 – «Электроника и наноэлектроника» в качестве бакалавров, магистров и инженеров, и может быть полезно при выполнении лабораторных работ, подготовке магистерских диссертаций и дипломных работ.
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса «Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий».
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника» в качестве бакалавров, магистров и инженеров, при выполнении лабораторных работ, подготовке магистерских диссертаций и дипломных работ.
Курс лекций содержит необходимый для изучения раздела «Основы метрологии в электронике» материал, а также примеры решения задач метрологии и справочные данные.
Первый раздел пособия посвящен основным свойствам, характеризующим любой материал, далее следуют разделы, в которых рассматриваются три основных класса электронных материалов: полупроводники, проводники, диэлектрики. Опыт показал, что на некоторые важные, актуальные, но частные проблемы материаловедения радиотехники и электроники (стекла и стеклокомпозиты, сверхпроводники, в том числе высокотемпературные, магнитные материалы, материалы квантовой оптики и т.п.) в установленном объеме курса не хватает времени. Поэтому краткие сведения по этим материалам приведены в приложении.
Рассмотрены исторические аспекты становления и развития электронной промышленности как отрасли, обеспечивающей компонентную базу радиотехники, электроники, вычислительно-информационной техники, т.е. наиболее наукоемких областей техногенной цивилизации. Приоритет отдан истории советской и российской электронной промышленности, развивавшейся в XX веке совершенно особым путем, достигшей значительных, подчас невероятных, успехов и пережившей ряд тяжелых кризисов. Выдающиеся организаторы, глобальные проекты, зависимость от политических решений – все это история советской электронной промышленности и опыт на будущее.