Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств. И. О. Атовмян
Математика. Прикладная информатика. Научные статьи
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Год выпуска 2014
isbn
Автор произведения И. О. Атовмян
Жанр Математика
Серия Прикладная информатика. Научные статьи
Издательство НОУ «МФПУ «Синергия»
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.